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佐々木 貞吉; R.S.Williams*; J.S.Wong*; D.A.Shirley*
Journal of Chemical Physics, 68(6), p.2718 - 2724, 1978/06
被引用回数:48固体表面層(~25の放射線損傷をX線電子分光法(XPS)により調べその放射線化学的な有用性について検討した。実験には高純度LiNOおよびLiSO単結晶を用い、高真空下(410Torr以下)で0.3~1.6keV電子線を照射した。結晶表面層の生成物をXPSで調べたところ、被照射LiNOではLiNO,LiOなどがまた被照射LiSOではLiSO,S,LiS,LiO,吸着酸素などが認められた。なおLiSOを重照射すると最終的にはLiSおよびLiOのみになる。また1.4keV電子線の「differential energy loss」より分解量および生成物収量を見積り10~10のG値をえた。